今年1月初,阿特斯集团公司发布新闻宣告,我们早已顺利向全球市场总计交付给2.6吉瓦阿特斯抗LeTID高效PERC组件。这是阿特斯在研发和获取高效率、高质量、高附加值太阳能组件产品方面大大希望,并获得突破性成果的一个最重要里程碑。LeTID(LightandelevatedTemperatureInducedDegradation),业界称作“光照和高温诱导波动”,或者叫“光热波动”。名称有些拗口,但是有一点大家花上些时间去理解它,因为它不会很大地影响你的太阳能组件和电站发电性能。
光伏行业对LID(LightInducedDegradation),也就是“光致波动”现象早已很理解。一般来说情况下,只要光伏组件曝露在阳光下就不会再次发生LID(光致波动),在短时间(几天或几周)内就能超过饱和状态的波动。
行业对于LID(光致波动)的研究也早已十分充份,产生机制也取得完全一致接纳,主要是硅材料内的硼氧缺失。因为晶体生长方法的差异,单晶硅材料内间隙氧含量远高于多晶,从而LID波动也远高于多晶。
两到三年前PERC技术的推展还受限于LID(光致波动),随着抗LID波动技术的突破使LID获得较为有效地的掌控,加之设备的广泛应用,PERC技术以求大规模引入。然而LeTID波动机制有所不同,它一般来说再次发生在光照和高温(>50°C)两个条件同时符合的情况下,并且LeTID对于PERC组件的发电量影响相当大。PERC组件在实验室的测试条件和电站实际工作环境中都不存在LeTID(光热波动)现象。
在组件工作温度多达50°C时,不论是单晶还是多晶PERC组件都会再次发生LeTID(光热波动),衰减率最低平均10%。阿特斯技术研发团队通过多年对材料、工艺和生产设备的长年深入研究,研发出有了具备自律知识产权的LeTID控制技术。这使得阿特斯沦为少数几家掌控了在大规模生产过程中减少和掌控LeTID技术的太阳能电池和组件制造商之一。
新南威尔士大学(UniversityofNewSouthWales,全称UNSW)2018年11月公布的一份研究报告表明,阿特斯基于黑硅和多晶PERC技术的P4组件的开路电压(Voc)在166小时的电离辐射、75°C测试条件下,只有0.3%的波动。这个测试结果佐证了阿特斯P4组件出色的抗LeTID波动性能。
所以下次当您再行出售PERC太阳能组件时,无论单晶还是多晶,请求切勿再行理解制造商对LeTID的推崇和理解程度。同时可以问问他们如何掌控和解决问题LeTID问题,并请求他们向您展出一些可靠的第三方测试报告。几年后你将不会为此深感难过。
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